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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測(cè)分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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ZetaAPS美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號(hào)：ZetaAPS

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美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀可以測(cè)試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。$n對(duì)于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。
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Zeta-FinderZF400型超聲電聲法及Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號(hào)：Zeta-FinderZF400型

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超聲電聲法及Zeta電位分析儀采用專門(mén)的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；
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CHDF3000型美國(guó)MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2021-08-19

型號(hào)：CHDF3000型

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美國(guó)MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀$n精確非均勻樣品分析—包括納米顆粒—?dú)w功于其與顆粒密度無(wú)關(guān)的分析。自動(dòng)/無(wú)人操作。所有組件都在一個(gè)簡(jiǎn)易單一窗口界面控制和操作。
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CHDF4000型美國(guó)MAS毛細(xì)管高分辨納米粒度儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號(hào)：CHDF4000型

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美國(guó)MAS毛細(xì)管高分辨納米粒度儀CHDF4000是基于光散原理的儀器，使用新的技術(shù)對(duì)高分辨率的粒度分布（PSD）進(jìn)行測(cè)量，包括高粒子檢測(cè)靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析；$nCHDF4000可提供完整范圍5納米至NM3微米，真實(shí)的PSD數(shù)據(jù)；$n通過(guò)粒子分離真正的PSD數(shù)據(jù)，關(guān)于粒子大小分布的形狀不需要假設(shè)；$n自動(dòng)化操作，通過(guò)一個(gè)人性化界面即可完成全部操作
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ZetaZF400型美國(guó)MAS膠體zeta電位測(cè)定儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號(hào)：ZetaZF400型

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美國(guó)MAS膠體zeta電位測(cè)定儀采用專門(mén)的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品，從而避免了稀釋器材的使用和錯(cuò)誤（樣品稀釋，Zeta電位將*改變）;該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；
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ZetaZF400型美國(guó)MAS電聲法粒度Zeta電位分析儀原液測(cè)試

更新時(shí)間：2021-06-24

型號(hào)：ZetaZF400型

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美國(guó)MAS電聲法粒度Zeta電位分析儀原液測(cè)試該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；堅(jiān)固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨(dú)立的容器中；自動(dòng)滴定法用于簡(jiǎn)單的IEP測(cè)量；樣品可被強(qiáng)烈攪拌或混合，因此不會(huì)產(chǎn)生沉淀物；
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ZetaZF400型超聲電聲法Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號(hào)：ZetaZF400型

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超聲電聲法Zeta電位分析儀$n該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；堅(jiān)固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨(dú)立的容器中；自動(dòng)滴定法用于簡(jiǎn)單的IEP測(cè)量；樣品可被強(qiáng)烈攪拌或混合，因此不會(huì)產(chǎn)生沉淀物；
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粒度電聲法Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2021-08-19

型號(hào)：

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粒度電聲法Zeta電位分析儀，Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量；樣品的高濃度可達(dá)60%（體積比），被測(cè)樣品無(wú)需稀釋，對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量；具有自動(dòng)電位滴定功能；
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